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2英寸Ga2O3氧化镓外延片

2019/08/15

  详细内容

  氧化镓是新一代功率半导体和深紫外光电子半导体材料,其禁带宽度为4.9eV,远远大于氮化镓(3.3eV)、碳化硅(3.4eV)和硅(1.1eV)的禁带宽度。在功率半导体方面,氧化镓的击穿电场强度是硅的20多倍,是碳化硅和氮化家的2倍多,氧化镓的击穿电场强度可达8MV/cm。由于氧化镓在诸多领域的重要应用价值,氧化镓材料和器件的研究与应用,已成为当前研究与开发的热点和重点。为此,我们提供2英寸Ga2O3外延片和2英寸的Ga2O3单晶衬底。

主要参数指标

外延层

参数指标

掺杂剂

Si (n-)

掺杂浓度

可指定在2x1016 和9x1016 cm-3之间

外延层厚度

指定在510μm之间

外延片衬底

参数指标

掺杂剂

Sn (n-)

掺杂浓度

1~9x1018 cm-3

晶面

(001)

尺寸

Φ2 英寸

厚度

0.65 mm

XRD FWHM

350 arcsec

偏离角度

0°±1°


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