BeamMap2狭缝扫描式光束质量分析仪
2022/10/12
产品型号:BeamMap2
产品ID:S-BMS2-4XY-Si-250
品牌名称:美国Dataray
DataRay的BeamMap2代表了一种完全不同的实时光束分析方法。 它通过允许沿光束行程的多个位置进行测量,扩展了Beam'R2的测量功能。 这种实时狭缝扫描系统在旋转圆盘上的多个z平面中使用XY狭缝对,以同时测量四个不同z位置处的四个光束轮廓。 BeamMap2独特的专利设计最适用于焦点位置,M2,光束发散和指向的实时测量。
产品特点:
· 190至1150 nm,Si探测器
· 650至1800 nm,InGaAs探测器
· 1000至2300或2500 nm,InGaAs(扩展)探测器
· 提供多种平面间距选项
· 光束直径为5µm至4mm
· 端口供电,USB2.0,灵活的3米电缆,没有电源砖
· 0.1µm的采样和分辨率
· 线性和对数X-Y轮廓
· 轮廓缩放和狭缝宽度补偿
· 实时多Z平面扫描狭缝系统
· 实时 XYZ轮廓,焦点位置
· 实时M²、发散、准直、对准
产品参数:
产品参数 | |
波长 | Si detector: 190 to 1150 nm InGaAs detector: 650 to 1800 nm Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm |
扫描光束直径 | Si detector: 5 µm to 4 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode* InGaAs detector: 10 µm to 3 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode* InGaAs (extended) detector: 10 µm to 2 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode* |
平面间距(4XYmodels) | 100 µm: -100, 0, +100, +400 µm 250 µm: -250, 0, +250, +1000 µm 500 µm: -500, 0, +500, +2000 µm 750 µm: -750, 0, +750, +3000 µm |
平面间距(3XYKE models) | 50 µm: -50, 0, +50, 0 µm 100 µm: -100, 0, +100, 0 µm |
束腰直径测量 | Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat 1/e² (13.5%) width User selectable % of peak Knife-Edge mode* for very small beams |
束腰位置测量 | 在 X、Y 和 Z 方向上 ± 20 µm 最佳 |
测量源 | 连续波;脉冲激光,F µm = [500/(PRR in kHz)] |
分辨率精度 | 0.1µm或扫描范围的 0.05%±<2%±= 0.5 µm |
M² 测量 | 1 to > 20, ± 5% |
发散/准直,指向 | 1 mrad最好 |
最大功率和辐照度 | 1 W Total & 0.5 mW/µm² |
增益范围 | 1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range |
显示图形 | X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16 |
更新率 | ~5 Hz |
平均 | 用户可选择运行平均值(1 到 8 个样本) |
最低电脑要求 | Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port |
* Knife-Edge mode需要 3XYKE 型号