产品展示
0431-89561560
长春市高新区锦河街155号，中国·吉林东北亚文化创意科技园实验楼3层303
高精度光束分析仪 (Beam Analyzer)
2019/08/15
详细内容
主要特征
● 12 bit A/D
● 同时高分辨率采样所有模式
● 实时检测光束质量、尺寸和高斯拟合
● 实时显示光束2D/3D图像
● 测量光束的中心、椭圆度和功率
● Excel数据存储，RS232或TCP/IP数据传输
● 可保存快照图像
● 自动验证分析报告
● USB接口
Si UV-Si IR IRE | ||
光谱范围 | Si UV-Si IR IRE | 350-1100nm 190-1100nm 800-1800nm 1200-2700nm |
刀片数 | 3（BA3头） 7（BA7头） | |
光束尺寸范围 | BA7-Si和BA7-UV(椭圆形) BA7-Si和BA7-UV（圆形） BA3-IR3和BA3-IR3-E BA7-IR3和BA7-IR3-E BA7-IR5 | 15µm-10mm 15µm-9mm 3µm-3mm 15µm-3mm 3µm-5mm 15µm-5mm |
光束宽度分辨率 | >100µm <100µm | |
光束宽度精确度 | ±2% | |
功率范围 | Si和UV-Si探头 InGaAs探头 | 10µW-1W(有衰减片) 10µW-5mW(无衰减片) |
功率精确度 | Si和UV-Si探头 InGaAs探头 | ±5% ±10% |
功率分辨率 | 0.1µW | |
位置精确度 | ±15µm | |
位置分辨率 | 1µm | |
饱和度 | Si和UV-Si探头 | 0.1W/cm2(无衰减片)，20W/cm2(NG9) |
测量速率 | 5Hz | |
温度 | 0℃-35℃ | |
PC接口 | USB2.0 |